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超細內窺鏡公司服務至上 北京德盟科技公司

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發(fā)布時間:2021-07-29 09:40  








內窺鏡三維立體的優(yōu)點

即觀案即測量,孔探工作速率高

由于三維立體相位掃描測量技術不再是根據二維畫面進行,而是采用攝取和掃描物體表面三維信息的辦法,所以不再限制測量鏡頭的視野和焦距,可以采用單物鏡且視野范圍更廣、焦距范圍更大的設計,實現即觀察即測量,發(fā)現缺陷后無需更換鏡頭即可直接測量(如圖7所示)。近年來,雖然也有其他廠家嘗試研發(fā)觀察鏡頭與測量鏡頭二合一的技術以期實現即觀察即測量的功能,但由于其測量精度無法滿足要求而不被接受。



內窺鏡的照明技術

目前市場上工業(yè)內窺鏡的照明技術主要分為兩種︰前置光源和后置光源。

前置光源技術,光源通常直接裝在鏡頭上,例如采用貼片的方式,不用通過光纖或者光纖束傳遞光信號,目前國產內窺鏡和部分進口內窺鏡品牌大部分采用的是前置光源技術。這種光源技術,主機成本低,但是鏡頭成本較高,因為集成了光源的緣故,而且由于鏡頭直徑通常不足10毫米,狹小的空間限制了光源功率不可能太大,導致無法看清被檢對象或者成像清晰度受到一定影響。

后置光源技術,光源后置在主機里,通過成像光纖傳遞光信號,在鏡頭上設置有出光口達到照明的目的。這種光源照明技術,主機成本略高,鏡頭成本相對低一些,主要應用于比較專屬的進口工業(yè)內窺鏡品牌上。后置光源的照明方式,由于光源位于主機里,沒有空間上的限制,因此可以采用大功率光源,保證照明的亮度,從而保證了圖像清晰度。



內窺鏡單物鏡激光測量法

其后工業(yè)內窺鏡出現的單物鏡激光測量法也是一種單視窗的、理論上可測量30~50mm大尺寸的方法,同樣不需要垂直于被測量缺陷所在的平面,并且其測量鏡頭的焦距較長,可以直接用來查找缺陷然后進行拍照測量,因此其在面世之初曾受關注。但在實際應用中,由于散落在缺陷上的激光點的數量相對有限,導致檢測同一缺陷的測量數值的重復性相對較差而無法確認有效數據,特別是針對較小缺陷時這種情況就更加明顯,所以這種測量方法目前在民航領域應用不多,在此就不做進一步分析了。




單物鏡三維立體相位掃描測量法

近幾年工業(yè)內窺鏡出現的單物鏡三維立體相位掃描測量法(以下簡稱3D相位掃描測量)是一種新型的法光學測量技術,其測量鏡頭可將線形光柵交叉投射到表面,并用具有高質量光學器件的攝像機這個線形模式,再用專有算法處理圖像,得到整個表面的三維點云圖;將三維空間點坐標與測量結合使用,獲得更多有關缺陷或者被測對象的準確信息,這是真正意義上的三維立體測量技術,并且數據重復性好,可靠性高。

其測量鏡頭同樣不需要垂直于被測量缺陷所在的平面,尤為特別的是它將不同焦距段(極近、近焦和中焦)的觀察鏡頭和測量鏡頭合為一體,采用大視野單視窗視圖,檢測過程中發(fā)現缺陷即可拍照測量,不僅適合于較大尺寸缺陷的測量,而且較之雙物鏡立體測量,省去了從觀察鏡頭更換為測量鏡頭的步驟,有效的提高檢測效率,同時也降低了工業(yè)內窺鏡探頭反復穿插帶來卡滯的風險。




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