【廣告】
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。另外,由于精細(xì)間距QFP器件對(duì)組裝工藝要求嚴(yán)格,使其應(yīng)用受到了限制,為此美國(guó)一些公司就把注意力放在開發(fā)和應(yīng)用比QFP器件更優(yōu)越的BGA器件上。
滿足對(duì)BGA器件電子測(cè)試的評(píng)定要求是一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的技術(shù),因?yàn)樵贐GA器件下面選定溯試點(diǎn)是困難的。在檢查和鑒別BGA器件的缺陷方面,電子測(cè)試通常是無能為力的,這在很大程度上增加了用于排除缺陷和返修時(shí)的費(fèi)用支出。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。在旋動(dòng)轉(zhuǎn)軸的過程中,如果指針有時(shí)指向零,說明動(dòng)片和定片之間存在短路點(diǎn)。
據(jù)一家國(guó)際1流的計(jì)算機(jī)制造商反映,從印刷電路板裝配線上剔除的所有BGA器件中的50%以上,采用電子測(cè)試方式對(duì)其進(jìn)行測(cè)試是失敗的,它們實(shí)際上并不存在缺陷,因而也就不應(yīng)該被剔除掉。電子測(cè)試不能夠確定是否是BGA器件引起了測(cè)試的失效,但是它們卻因此而被剔除掉。根據(jù)測(cè)出的電阻值大小,可具體分下述三種情況進(jìn)行鑒別:A被測(cè)色碼電感器電阻值為零,其內(nèi)部有短路性故障。對(duì)其相關(guān)界面的仔細(xì)研究能夠減少測(cè)試點(diǎn)和提高測(cè)試的準(zhǔn)確性,但是這要求增加管芯級(jí)電路以提供所需的測(cè)試電路。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。用萬用表的R×1k擋測(cè)量壓敏電阻兩引腳之間的正、反向絕緣電阻,均為無窮大,否則,說明漏電流大。
測(cè)試 BGA器件連接點(diǎn)的物理特性和確定如何才能始終如一地在裝配工藝過程中形成可靠連接的能力,在開始進(jìn)行工藝過程研究期間顯得特別的重要。這些測(cè)試所提供的反饋信息影響到每個(gè)工藝過程的調(diào)整,或者要變動(dòng)焊接點(diǎn)的參數(shù)。
我公司從事機(jī)關(guān)及企事業(yè)單位淘汰報(bào)廢電子電器產(chǎn)品和各類生產(chǎn)性電子廢料及帶有電子器件的其他物件的收集、回收廢電子元件,廢電子元件回收,廢線路板回收蘇州電子芯片,蘇州回收手機(jī)排線,手機(jī)板回收,廢舊電容器回收,電解電容回收,蘇州電子元器件,蘇州顯示屏回收及綜合利用等。測(cè)試BGA器件連接點(diǎn)的物理特性和確定如何才能始終如一地在裝配工藝過程中形成可靠連接的能力,在開始進(jìn)行工藝過程研究期間顯得特別的重要。
僅有橫截面X射線檢測(cè)技術(shù),例如:X射線分層法,能夠克服上述條件的制約。橫截面X射線檢測(cè)技術(shù)具有能夠查出隱藏的焊接點(diǎn)缺陷的能力,通過對(duì)焊盤層焊接點(diǎn)的聚焦,能夠揭示出BGA焊接點(diǎn)的連接情況。為了能夠確定和控制這樣一種工藝過程的質(zhì)量,要求了解和測(cè)試影響其長(zhǎng)期工作可靠性的物理因素,例如:焊料量、導(dǎo)線與焊盤的定位情況,以及潤(rùn)濕性,否則試圖單單基于電子測(cè)試所產(chǎn)生的結(jié)果進(jìn)行修改,令人格憂。在同樣的情況下,采用X射線設(shè)各所獲得的圖像中,實(shí)際情況可能被隱藏掉了,從而不能夠反映出真實(shí)的情況。