檢修用IGBT測試儀加工量大從優(yōu) 華科IGBT柵電荷

9、系統(tǒng)保護(hù)功能

9.1 有完備的安全控制單元，動態(tài)測試設(shè)備有傳感器來保證操作者安全，設(shè)備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

9.2 有急停按鈕，當(dāng)急停按鈕被按下時，迅速切斷所有高壓電源。

9.3 系統(tǒng)帶有短路保護(hù)功能，在過載時迅速斷開高壓高電流。

9.4 操作系統(tǒng)帶有多級權(quán)限。

9.5 系統(tǒng)應(yīng)配有內(nèi)置ups，保證計算機(jī)系統(tǒng)在電網(wǎng)短時間掉電情況下，為系統(tǒng)供電0.5小時以上，確保系統(tǒng)及數(shù)據(jù)安全。

10、樣品夾具

10.1 有通用測試夾具。

10.2 帶有62mm封裝測試夾具

10.3 帶有EconoPACK3封裝測試夾具

10.4 帶有34mm封裝測試夾具

目的和用途 該設(shè)備用于功率半導(dǎo)體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態(tài)參數(shù)測試，以表征器件的動態(tài)特性，通過測試夾具的連接，實現(xiàn)模塊的動態(tài)參數(shù)測試。3電流持續(xù)時間It：10~1000us單個脈沖或雙脈沖的總時間。 1.2 測試對象 IGBT、FRD、肖特基二極管等功率半導(dǎo)體模塊 2.測試參數(shù)及指標(biāo) 2.1開關(guān)時間測試單元技術(shù)條件 開通時間測試參數(shù)： 1、開通時間ton：5～2000ns±3%±3ns 2、開通延遲時間td(on)：5～2000ns±3%±3ns 3、上升時間tr：5～2000ns±3%±3ns 4、開通能量： 0.2～1mJ±5%±0.01mJ 1～50mJ±5%±0.1mJ 50～100mJ±5%±1mJ 100～500mJ±5%±2mJ 5、開通電流上升率di/dt測量范圍：200-10000A/uS 6、開通峰值功率Pon：10W～250kW

2.7測試夾具 1、控制方式：氣動控制 2、控溫范圍：室溫—150℃ 室溫—125℃±1.0℃±3% 125—150℃±1.5℃±3% 3、電源：交流50HZ，220V，功率不大于1000W 4、夾具能安裝不同規(guī)格的適配器，以測試不同規(guī)格的器件，不同模塊需要配備不同的適配器，設(shè)備出廠時配備62mm封裝測試夾具、EconoPACK3封裝測試夾具、34mm封裝測試夾具各一套，但需甲方提供適配器對應(yīng)器件的外形圖；(因漏電流是以溫度的二次方的曲線增加)，進(jìn)而使半導(dǎo)體的接口產(chǎn)生大量崩潰，而將此元件完全燒毀。 2.8環(huán)境要求 環(huán)境溫度：15～35℃ 相對濕度：小于70% 大氣壓力：86Kpa～ 106Kpa 壓縮空氣：不小于0.4MPa 電網(wǎng)電壓：AC220V±10%無嚴(yán)重諧波，三線制 電網(wǎng)頻率：50Hz±1Hz