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KOAN 高穩(wěn)恒溫晶振 SC 切晶體之優(yōu)點(diǎn)

a) 開機(jī)特性好，SC 切諧振器的熱過沖比 AT 切晶體諧振器約小兩個(gè)數(shù)量級，因此 SC 切晶體振蕩器加電后能很快達(dá)到頻率穩(wěn)定；

b) 老化小，SC 切晶體的應(yīng)力效應(yīng)很小，由應(yīng)力馳豫引起的老化也??；

c) 幅頻效應(yīng)小，SC 切晶振的幅頻效應(yīng)大約是 AT 切晶振的一半，因此 SC

切晶體的激勵(lì)電平可比 AT 切晶體大一個(gè)數(shù)量級，老化不會(huì)增加；

d) 恒溫晶振 SC 切短期頻率穩(wěn)定性，抗輻射，抗加速度都非常好。

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KOAN 恒溫晶體振蕩器老化成因

晶體老化是因?yàn)樵谏a(chǎn)晶體的時(shí)候存在應(yīng)力、污染物、殘留氣體、結(jié)構(gòu)工藝缺陷等問題。應(yīng)力要經(jīng)過一段時(shí)間的變化才能穩(wěn)定，一種叫“應(yīng)力補(bǔ)償”的晶體切割方法（SC 切割法）使晶體有較好的特性。污染物和殘留氣體的分子會(huì)沉積在晶體片上或使晶體電極氧化，這種影響要經(jīng)過一段較長的時(shí)間才能逐漸穩(wěn)定，而且這種穩(wěn)定隨著溫度或工作狀態(tài)的變化會(huì)有反復(fù)——使污染物在晶體表面再度集中或分散。因此，頻率低的晶振比頻率高的晶振、工作時(shí)間長的晶振比工作時(shí)間短的晶振、連續(xù)工作的晶振比斷續(xù)工作的晶振的老化率要好。

影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機(jī)理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動(dòng)態(tài)電容和動(dòng)態(tài)電感隨時(shí)間而變化；

2) 加在石英片的機(jī)械應(yīng)力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應(yīng)；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內(nèi)部污染也是造成諧振器老化的一個(gè)重要原因；

4) 流過諧振器激勵(lì)電流的大小對老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無源元件的老化也會(huì)影響振蕩頻率的老化率。

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KOAN 恒溫晶振 OCXO 的負(fù)載效應(yīng)概念

晶振的負(fù)載效應(yīng)定義為空載輸出相對頻率與加額定負(fù)載后的輸出相對頻率之差。一般高穩(wěn)晶振加電阻，電容，電感性負(fù)載后所引起的相對頻率變化大約在 0.2ppb 左右，而恒溫晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要設(shè)法改善負(fù)載效應(yīng)，以保證負(fù)載變化時(shí)，振蕩器有較高的頻率準(zhǔn)確度。而負(fù)載特性不好的一個(gè)主要原因是振蕩電路的地線和電源線存在一定的阻抗。

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