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雷達(dá)物位計(jì)公司在線咨詢 研控科技值得信賴

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發(fā)布時(shí)間:2021-04-14 13:33  

杭州雷達(dá)物位計(jì),就找杭州研控科技有限公司

通用性強(qiáng):可測(cè)量液位及料位,可滿足不同溫度、壓力、介質(zhì)的測(cè)量要求,并可應(yīng)用于腐蝕、沖擊等惡劣場(chǎng)合防掛料:獨(dú)特的電路設(shè)計(jì)和傳感器結(jié)構(gòu),使其測(cè)量可以不受傳感器掛料影響,無(wú)需定期清潔,避免誤測(cè)量。免維護(hù):測(cè)量過(guò)程無(wú)可動(dòng)部件,不存在機(jī)械部件損壞問(wèn)題,無(wú)須維護(hù)。抗干擾:接觸式測(cè)量,抗干擾能力強(qiáng),可克服蒸汽、泡沫及攪拌對(duì)測(cè)量的影響。且高頻雷達(dá)物位計(jì)可以附加天線罩來(lái)改善因污物、水汽對(duì)儀表造成的測(cè)量影響,而低頻雷達(dá)物位計(jì)的天線較大,加置天線罩有一定難度,再加上其重量較高,在清理方面存在一定的困難程度。準(zhǔn)確可靠:測(cè)量量多樣化,使測(cè)量更加準(zhǔn)確,不受環(huán)境變化影響,穩(wěn)定性高,使用壽命長(zhǎng)。

高頻雷達(dá)物位計(jì)的優(yōu)點(diǎn)有以下6點(diǎn):

1.高頻雷達(dá)物位計(jì)的傳輸能量高、波束角小、精度高。

2.是測(cè)量散裝物料的選擇。由于雷達(dá)波的反射主要來(lái)自料位表面的漫反射,漫反射的強(qiáng)度與物料大小成正比,又與波長(zhǎng)成反比,而大多數(shù)散裝物料的直徑遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于50mm,因此高頻雷達(dá)物位計(jì)被廣泛用于測(cè)量固體物料。

3.高頻雷達(dá)物位計(jì)的天線短、方向性好,比低頻雷達(dá)物位計(jì)更加適用于小形儲(chǔ)罐的物位測(cè)量。且高頻雷達(dá)物位計(jì)可以附加天線罩來(lái)改善因污物、水汽對(duì)儀表造成的測(cè)量影響,而低頻雷達(dá)物位計(jì)的天線較大,加置天線罩有一定難度,再加上其重量較高,在清理方面存在一定的困難程度。大部分經(jīng)濟(jì)型雷達(dá)物位計(jì)都采用中等頻率的微波頻率,這樣其發(fā)射角較大。

4.由于高頻雷達(dá)物位計(jì)的方向性好,因此在很多惡劣工況中可通過(guò)簡(jiǎn)單的隔離將其安裝于容器外部,進(jìn)行隔離式測(cè)量。

5.無(wú)盲區(qū),;且不受真空、、蒸汽、惰性氣體、壓力和溫度變化等環(huán)境影響。

6.標(biāo)定簡(jiǎn)便、測(cè)量靈敏, 非常適用于高溫場(chǎng)合。


雷達(dá)物位計(jì)

杭州雷達(dá)物位計(jì),就找杭州研控科技有限公司隨著物位計(jì)的使用范圍越來(lái)越廣,例如雷達(dá)物位計(jì)在帶有腐蝕性污染的環(huán)境下,依然可以準(zhǔn)確的測(cè)量。但是實(shí)際使用過(guò)程中,也會(huì)因?yàn)楦鞣N各樣的內(nèi)外因素,造成測(cè)量出現(xiàn)誤差,從而影響終的結(jié)果。杭州雷達(dá)物位計(jì),就找杭州研控科技有限公司探頭結(jié)疤和頻繁故障針對(duì)雷達(dá)物位計(jì)的這類情況,可以增加探針的安裝位置,但情況有時(shí)受限制的安裝條件下,應(yīng)該被用于測(cè)量水箱泵聯(lián)鎖方式的料位的值。當(dāng)故障發(fā)生后,及時(shí)采取相應(yīng)的處理方法是正確的做法,下面介紹常見(jiàn)的故障及其緊急處理措施。

     1、天線結(jié)疤

  雷達(dá)物位計(jì)出現(xiàn)這類情況的原因其一是因?yàn)楹透呓殡姵?shù)材料介電常數(shù)小的材料使用,會(huì)影響測(cè)量結(jié)果,而在干燥狀態(tài)下的測(cè)量沒(méi)有影響。用戶可以采取的措施是:堿性洗滌,即用酸性清洗液結(jié)疤,但不能在水平測(cè)量過(guò)程中進(jìn)行清洗;用壓縮空氣吹掃,降低壓縮空氣冷卻法蘭和電子元件的溫度。微波信號(hào)的傳輸不受大氣的影響,所以它可以滿足工藝過(guò)程中揮發(fā)性氣體、高溫、高壓、蒸汽、真空及粉塵等惡劣環(huán)境的要求。

      2、泡沫的影響:

  出現(xiàn)泡沫也分為許多類型,干濕泡沫可以使雷達(dá)反射率可以回來(lái),對(duì)測(cè)量無(wú)影響;反射中性泡沫會(huì)吸收和傳播的雷達(dá)。當(dāng)介質(zhì)表面很厚、大,出現(xiàn)應(yīng)用限制和測(cè)量誤差,雷達(dá)物位計(jì)不具有優(yōu)勢(shì),不能在這樣的條件下進(jìn)行測(cè)量。





現(xiàn)場(chǎng)雷達(dá)物位計(jì)測(cè)量不準(zhǔn)確,與實(shí)際物位有偏差。首先從雷達(dá)物位計(jì)的選型分析,認(rèn)真對(duì)照被測(cè)介質(zhì)的介電常數(shù),看是否與所選雷達(dá)物位計(jì)相匹配;其次分析雷達(dá)物位計(jì)的安裝位置,一般情況下不建議雷達(dá)物位計(jì)安裝在罐(倉(cāng))的正中間部位,這樣會(huì)產(chǎn)生大量由倉(cāng)壁對(duì)探測(cè)波的多重反射而形成的高能回波,從而使雷達(dá)物位計(jì)無(wú)法準(zhǔn)確分析回波數(shù)據(jù),導(dǎo)致探測(cè)誤差較大,甚至無(wú)法實(shí)施探測(cè);再次是進(jìn)入菜單模式,檢查設(shè)置的各種基本參數(shù)是否合適,例如正向、反向的測(cè)量會(huì)直接影響雷達(dá)物位計(jì)的終測(cè)量值等;后在條件允許的情況下打開(kāi)連接法蘭檢查測(cè)量元件,看喇叭口是否有凝結(jié)水滴、雷達(dá)天線是否有其他物質(zhì)附著或沉積,若有則用柔軟材料及時(shí)進(jìn)行清理。雷達(dá)物位計(jì)是采用了一種微波脈沖的測(cè)量方法來(lái)進(jìn)行探測(cè),可以在工業(yè)的正常頻率中進(jìn)行使用,因?yàn)槠溥M(jìn)行探測(cè)的時(shí)候波束的能量比較低,而且還可以安裝在各種金屬以及管道的內(nèi)部進(jìn)行探測(cè)。


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