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一六 熒光測厚儀 十年以上研發(fā)團隊 集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體
元素分析范圍:氯(CI)- 鈾(U) 厚度分析范圍:各種元素及有機物
一次可同時分析:23層鍍層,24種元素 厚度檢出限:0.005um
X熒光測厚儀可調(diào)整測量位置,非常敏捷快速?;蚴菧y量位置已完成登陸時,可連續(xù)自動測定,利用座標補正、連結(jié)頻道,來應付各種測量軌跡。亦可用自動測定來作標準片校正。
測定部顯示盡像的表示:X線照射部可由WINDOWS畫面上取得照射部的表示。從準儀照射測定物的位置,可由倍率率更機能來實現(xiàn)盡面上測出物放大。。。
一六儀器 專業(yè)測厚儀 多道脈沖分析采集,先進EFP算法 X射線熒光鍍層測厚儀
應用于電子元器件,LED和照明,家用電器,通訊,汽車電子領域.EFP算法結(jié)合精準定位決了各種大小異形多層多元素的涂鍍層厚度和成分分析的業(yè)界難題
定位方式:
1、移動平臺:
A、手動(普通和帶精密滑軌移動):裝配設計不同精準移位從0.5mm-0.005mm不等,移動的靈動性差距也很大。
B、電動(自動):裝配設計不同精準移位從0.2mm-0.002mm不等
但同樣的手動或者自動,其定位精準也相差很多。
2、高度定位:
A、手動變焦和無變焦
B、激光對焦和CCD識別對焦
江蘇一六儀器 X熒光光譜測厚儀
下照式設計:可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測,凹槽深度范圍0-90mm。
微聚焦射線裝置:可檢測面積小于0.002mm2的樣品,可測試各微小的部件。
接收:即使測試0.01mm2以下的樣品,幾秒鐘也能達到穩(wěn)定性。
精密微型滑軌:快速精準定位樣品。
EFP先進算法軟件:多層多元素,甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
江蘇一六儀器 X射線熒光光譜儀XTU/X-RAY系列
技術參數(shù)
X射線裝置:W靶微聚焦加強型射線管
準直器φ 0.05 mm ;φ 0.1 mm;φ 0.2 mm;φ 0.5 mm; 準直器任意選擇或者任意切換
近測距光斑擴散度:9%
測量距離:具有距離補償功能,可改變測量距離,能測量凹凸異型樣品,變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察:1/2.5彩色CCD,變焦功能對焦方式高敏感鏡頭,手動對焦
放大倍數(shù):光學38-46X,數(shù)字放大40-200倍
隨機標準片:十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件:聯(lián)想電腦一套、噴墨打印機、附件箱