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晶間腐蝕檢驗的離線檢測方法

、超聲檢測。超聲測厚已經是一門很成熟的工業(yè)無損探測技術，通過對超聲波反射變化的分析，檢測金屬厚度中是否存在裂紋、空洞等，因此超聲波被視為金屬厚度或裂紋的檢查工具。但須注意的是海水中聲速與大氣不同，要選取正確的參數才能使用。

　　第二、渦流法。在交流饋電線圈電場內，放入金屬物塊，其表面會產生渦流。而如果金屬表面產生腐蝕裂紋或蝕坑處，那么渦流將會受到干擾，使激勵線圈反電勢改變，或在次級線圈內產生變化。而檢波、放大可將這種變化轉換為視覺顯示。實際生活中，我們將線圈做成探頭，在被測表面上移動進行測定?？梢詸z測出材料的表面缺陷和腐蝕情況。

　　第三、漏磁法。根據鋼腐蝕缺陷處的磁導率遠小于鋼管的磁導率的原理。在外加磁場后，無缺陷的地方磁力線分布均勻，而有缺陷的地方，磁力線發(fā)生彎曲，并有一部分磁力線泄露出鋼表面，這個現象可以通過監(jiān)測查看腐蝕狀況。常用于檢測表面裂紋和蝕孔，如果作為運行中設備的內腐蝕檢測手段時，腐蝕缺陷要足夠深。

掃描電子顯微鏡主要功能

掃描電子顯微鏡可以提供直觀的尺規(guī)量測功能。在微米～奈米的尺度下直接對樣品影像進行尺規(guī)量測。搭配適當尺規(guī)量測標準件，可作直接尺規(guī)量測。

可偵測的二次電子產生於物體表面的5~10奈米范圍內，因此二次電子影像具有良好的空間分辨率，掃描電子顯微鏡二次電子影像可以輕松達到奈米級別分辨率，在無干擾的狀況下觀察樣品影像。

可偵測的背散電子產生於樣品表面50~200奈米范圍內，雖然分辨率不如二次電子像，但背散電子訊號強度較大，且可以觀察背散電子像丶成分像丶拓樸像等多種影像。對影像觀察丶成份比較相當有幫助。

光學顯微鏡

光學顯微鏡 光學顯微鏡主要由目鏡、物鏡、載物臺和反射鏡組成。目鏡和物鏡都是焦距不同的凸透鏡。物鏡凸透鏡的焦距小于目鏡凸透鏡的焦距。物鏡相當于投影儀的鏡頭，物體通過物鏡變成倒置、放大的實像。目鏡相當于普通的放大鏡，實像通過目鏡變成直立、放大的虛像。 從顯微鏡到人眼的物體都是倒置放大的虛像。鏡子用于反射和照亮被觀察的物體。鏡子一般有兩個反射面：一個是平面鏡，在光線較強時使用；另一種是凹面鏡，在光線較弱時使用，可以將光線會聚。