湖南ICPOES光譜儀價(jià)格服務(wù)為先「吉天儀器」

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?

ICP光譜儀的工作房間需要注意什么?請(qǐng)?jiān)影l(fā)射光譜儀廠家來(lái)為我們介紹一下。

首先對(duì)氣候比較濕潤(rùn)地區(qū)的用戶，必須配置大于50L的除濕機(jī)一臺(tái)，不然光譜分析儀由于受潮難于正常工作。例如在梅雨季節(jié)光譜分析儀發(fā)生故障的頻次比其他季節(jié)要高，原因就是空氣中的濕度高造成的。

其次房間地面應(yīng)該采用防潮處理，工作房間不應(yīng)該選擇樓底，二樓比較合適，平時(shí)地面不應(yīng)該用濕拖把清掃地面，吸塵器或半干拖布來(lái)處理;如果不常用，每天必須通電一次，通過(guò)部分電量損失發(fā)熱出去電子元件上的水分，梅雨季節(jié)更要經(jīng)常開(kāi)機(jī)，利用內(nèi)部散發(fā)的熱量來(lái)除潮;電器元件受潮后會(huì)降低絕緣性能，可用熱吹風(fēng)吹干，禁止貿(mào)然使用，否則會(huì)擊穿電器元件發(fā)生短路造成光譜分析儀電路系統(tǒng)被燒毀;對(duì)于比較干燥的地區(qū)，可以根據(jù)室內(nèi)濕度波動(dòng)酌情處理，如果常年大部分時(shí)間濕度都保持在(55±10)%RH波動(dòng)，可不配置除濕機(jī)。對(duì)于制冷裝置應(yīng)該經(jīng)常清洗過(guò)濾網(wǎng)積灰，和定期更換水冷卻，保證制冷劑正常運(yùn)行，以上工作可由操作者完成，除此之外，氣體流量計(jì)、氣壓表和電磁閥也應(yīng)該檢測(cè)，如果出現(xiàn)故障應(yīng)該由本單位專業(yè)維護(hù)人員及時(shí)更換。

ICP光譜儀進(jìn)樣管插到水里有氣泡

ICP光譜儀進(jìn)樣管插到水里有氣泡，更換進(jìn)樣管位置后，水進(jìn)樣緩慢且停留在蠕動(dòng)泵點(diǎn)，請(qǐng)問(wèn)該如何解決？

泵管的調(diào)節(jié):首先逆時(shí)針旋松壓桿旋鈕，接著開(kāi)慢泵，右手順時(shí)針慢慢調(diào)緊旋鈕，左手同時(shí)拿著泵管進(jìn)樣端在純水（或空白）面上下抽動(dòng)，使溶液和空氣分段進(jìn)入泵管.

當(dāng)看到溶液段將吸不吸時(shí)，先停止旋動(dòng)旋鈕，接著在它上面做個(gè)刻度記號(hào)，后再擰多一圈半，這樣就調(diào)好了。下次拆裝的時(shí)候就好辨認(rèn)了。

ICP光譜儀行業(yè)在迅速發(fā)展

全球已進(jìn)入科技信息化時(shí)代，科技技術(shù)革命正在逐步滲透到經(jīng)濟(jì)社會(huì)的各個(gè)產(chǎn)業(yè)，而分析行業(yè)同樣在迅速發(fā)展。越來(lái)越多企業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求越來(lái)越高，ICP光譜儀器設(shè)備也成為時(shí)代發(fā)展下提升產(chǎn)品質(zhì)量的新風(fēng)向。

隨著工業(yè)的發(fā)展和產(chǎn)品要求的提高，研發(fā)新型和性能金屬材料的需求日益增加，各種痕量元素的測(cè)定變得愈加重要。

同時(shí)，傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法操作步驟比較繁瑣，在緊急情況下，不能及時(shí)得到分析結(jié)果;其次，化學(xué)分析完成后，試劑的處理是一個(gè)難點(diǎn)，隨意處置會(huì)造成環(huán)境污染。因此光譜設(shè)備相對(duì)傳統(tǒng)化學(xué)分析方法，是金屬冶煉，鑄造等行業(yè)的更好選擇。

另一方面，直讀ICP光譜儀測(cè)樣非常快速，可以一次性分析多元素，節(jié)省分析時(shí)間，適合用于爐前快速分析。分析結(jié)果準(zhǔn)確，是許多鑄造，金屬冶煉的必備工具。

企業(yè)對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量的要求對(duì)ICP光譜儀應(yīng)用領(lǐng)域的進(jìn)一步拓寬起到了積極作用，極大地帶動(dòng)了ICP光譜儀器設(shè)備市場(chǎng)需求量 的增加。隨著我國(guó)經(jīng)濟(jì)發(fā)展邁進(jìn)新時(shí)代，分析儀器行業(yè)亦開(kāi)啟了新篇章。

ICP光譜儀是什么構(gòu)成的？

一臺(tái)典型的ICP光譜儀主要由一個(gè)光學(xué)平臺(tái)和一個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)組成。包括以下幾個(gè)主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統(tǒng)的物點(diǎn)。

2. 準(zhǔn)直元件: 使狹縫發(fā)出的光線變?yōu)槠叫泄狻Ｔ摐?zhǔn)直元件可以是一獨(dú)立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號(hào)在空間上按波長(zhǎng)分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點(diǎn)對(duì)應(yīng)于一特定波長(zhǎng)。

5. 探測(cè)器陣列：放置于焦平面，用于測(cè)量各波長(zhǎng)像點(diǎn)的光強(qiáng)度。該探測(cè)器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測(cè)器陣列。