FE3000廠家在線咨詢

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故,請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖,以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內，然后放入積分半球內。粉狀物用cell用磁鐵固定在樣品口上（使用溫控系統(tǒng)時用無磁鐵的夾具固定）。Xe激發(fā)光（投光光纖）的照射位置可由積分球上方放置的監(jiān)控窗口（圖上顯示）來進行確認。請將激發(fā)波長設置到可視光范圍內確認。

熒光材料樣品所反射的激發(fā)光，在積分球內壁上反射，并再次照射到熒光材料樣品上，發(fā)出熒光的現象叫做再激發(fā)。為了修正這個熒光發(fā)光的成份，如圖所示，改變Xe激發(fā)光（投光用光纖）的角度，將激發(fā)光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇（或Spectralon）一面來進行測試。這樣可以將對積分球內壁上漫反射引起的再激發(fā)熒光成份進行測試，實行修正。

產品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數(n:折射率、k:消光系數)。

應用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機EL)

■ 半導體、復合半導體

?矽半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料

■ 資料儲存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料