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遼源漫反射標(biāo)準(zhǔn)板廠家源頭直供廠家

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發(fā)布時(shí)間:2020-11-28 03:27  
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視頻作者:廣州景頤光電科技有限公司











漫反射板

廣州景頤光電科技有限公司是一家集科研、工程、銷售、技術(shù)咨詢于一身的高科技企業(yè),多年涉足光電顯示領(lǐng)域經(jīng)驗(yàn),多年的自主研發(fā)經(jīng)驗(yàn)成熟產(chǎn)品達(dá)數(shù)二十種之多,公司主營產(chǎn)品:透過率、透光率檢測(cè)儀、反射率檢測(cè)儀、吸光度檢測(cè)儀、激光器、光斑質(zhì)量分析儀、積分球均勻光源、漫反射板等。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導(dǎo)和業(yè)務(wù)洽談。

什么是漫反射目標(biāo)板?

漫反射目標(biāo)板涂以高漫反射材料和高度穩(wěn)定的調(diào)色系統(tǒng),可用于激光測(cè)距和傳統(tǒng)的遙感輻射定標(biāo)。該目標(biāo)板的典型反射比值從2%-94%不等,是在250-2500nm的波長(zhǎng)范圍內(nèi)常見的朗伯特反射體。

漫反射目標(biāo)板購買需要注意什么?

購買漫反射目標(biāo)板需要購買合適的尺寸,如果測(cè)試距離較遠(yuǎn),大于10米的測(cè)試距離一般需要購買一平方米以上的大面積漫反射目標(biāo)板,如果測(cè)試距離比較近,可以購買小尺寸的漫反射目標(biāo)板,當(dāng)然除了測(cè)試距離,還需要看光斑發(fā)散情況。還有就是看漫反射目標(biāo)板是否配有反射率測(cè)試報(bào)告,和正規(guī)的制造廠商。廣州景頤光電科技有限公司是專門制造漫反射目標(biāo)板的廠家,其具有產(chǎn)品的專利證書和生產(chǎn)規(guī)模,質(zhì)量和售后都有保障。






廣州景頤光電科技有限公司是一家擁有完善的客服機(jī)制,公司秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對(duì)客戶的需求,量身定制光譜檢測(cè)應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實(shí)際問題。我們擁有強(qiáng)大的資源優(yōu)勢(shì)和良好的進(jìn)出貨渠道,具有完善的品質(zhì)控制系統(tǒng)的客戶服務(wù)中心,我們服務(wù)周全、貨源充足、質(zhì)量保證、交貨及時(shí)。歡迎各界朋友蒞臨參觀、指導(dǎo)和業(yè)務(wù)洽談。

漫反射目標(biāo)板的常見應(yīng)用:漫反射目標(biāo)板可以用于激光雷達(dá)的定標(biāo)、無人駕駛的定位、無人機(jī)的定航、激光測(cè)距、物流分揀定距、機(jī)器人建樓定標(biāo)等等眾多行業(yè)和領(lǐng)域。

漫反射目標(biāo)板的原理:漫反射目標(biāo)板是在基板上噴涂以反射率對(duì)應(yīng)配比的涂料,漫反射層有黑灰白向反射率低中高過渡,具有良好的朗伯特體,各個(gè)方向的反射率皆相同,消除鏡面反射的影響,非常適合光學(xué)定標(biāo)。





采用多波長(zhǎng)激光作光源和不同的光束發(fā)散角模擬遠(yuǎn)、近場(chǎng)照明,研究了F4(聚四氟乙烯)粉末壓制的漫反射標(biāo)準(zhǔn)板的角散射分布特性和其偏振特性,結(jié)果表明F、標(biāo)準(zhǔn)板無論對(duì)遠(yuǎn)場(chǎng)還是近場(chǎng)光束均呈現(xiàn)良好的漫反射特性并具有良好的消偏振性能.漫反射標(biāo)準(zhǔn)板廠家

樣品反射特性的測(cè)量在光度學(xué)和光學(xué)領(lǐng)域有著重要作用,一般來說,這種測(cè)量通常借助于漫反射標(biāo)準(zhǔn)板來完成.為了得到可靠的、可重復(fù)的測(cè)量結(jié)果,應(yīng)該知道標(biāo)準(zhǔn)板的物理化學(xué)特性和反射特性.漫反射標(biāo)準(zhǔn)板廠家


通過分析激光聚變中近背向散射光的收集方式,提出了采用漫反射板收集近背向散射光的方法。通過對(duì)漫反射板的應(yīng)用場(chǎng)景分析,提出了需要研究的漫反射板特性,并搭建了漫反射板特性測(cè)量裝置。測(cè)量并分析了漫反射板的方向半球反射比、雙向反射分布函數(shù)、面均勻性、真空特性和紫外特性。漫反射標(biāo)準(zhǔn)板廠家








定標(biāo)漫反射板在光譜儀光路反射太陽光,通過已知的大氣外太陽照度和漫反射板的雙向反射分布函數(shù)BRDF確立輻亮度標(biāo)準(zhǔn)。定標(biāo)漫反射板的BRDF需要在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測(cè)量。在光譜儀整機(jī)狀態(tài)下使用太陽模擬器和標(biāo)準(zhǔn)漫反射板進(jìn)行定標(biāo)漫反射板實(shí)驗(yàn)室系統(tǒng)級(jí)BRDF測(cè)量的方法,對(duì)使用定標(biāo)漫反射板系統(tǒng)級(jí)BRDF進(jìn)行星上輻射定標(biāo)時(shí)的輻射定標(biāo)精度進(jìn)行了分析,輻射定標(biāo)精度能夠滿足≤5%的指標(biāo)要求。


在星上輻射定標(biāo)中,漫反射板星上太陽定標(biāo)方法是被廣泛認(rèn)可的高精度定標(biāo) 方 法,Sea Wi FS、MODIS 、MERIS 、OMI等星上遙感 器 相 繼 采 用 這 種星上定標(biāo)方法。









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