rohs光譜分析儀公司的行業(yè)須知「京國藝科技」

RoHS分析儀的分析原理

波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長:

nλ=2dsinaθ (n=1,2,3…)

式中 ，λ為分析譜線波長;d為晶體的晶格間距;θ為衍射角;n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測(cè)元素的特點(diǎn)信息。

能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量:

Q=kE式中，E為入射射線的光子能量;Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量;k為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特點(diǎn)信息。

待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。

為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。

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RoHS分析儀器的維護(hù)及安全使用方法　　

(a)儀器測(cè)試窗口為空狀態(tài)時(shí)，必須保證無異物進(jìn)入測(cè)試窗口內(nèi)?！　?

(b)儀器的測(cè)試窗口下方是進(jìn)口探測(cè)器的窗口，和光管的窗口，其為超薄鈹金屬制成。為保護(hù)其不受傷害，要求如下：

(1)操作時(shí)應(yīng)盡可能保護(hù)窗口內(nèi)無雜質(zhì)進(jìn)入，如有異物進(jìn)入應(yīng)該小心取出，或用洗耳球吹干凈。

(2)樣品取放應(yīng)該輕拿輕放，在放樣品前，應(yīng)該將測(cè)試窗口用洗耳球吹凈。

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RoHS元素分析儀的應(yīng)用領(lǐng)域

1.滿足歐盟RoHS指令，以及各國針對(duì)電子電機(jī)產(chǎn)品中有有害物質(zhì)含量的快速檢測(cè)分析，例如Cd、Pb、Hg、Cr、Br等含量的快速分析。

2．RoHS/WEEE針對(duì)目前IEC指令中之無鹵素鹵元素含量要求標(biāo)準(zhǔn)，利用HY1832JC可建立快速、非破壞的檢測(cè)方法，滿足廠商簡易的需求。

3．電子產(chǎn)業(yè)1、應(yīng)用於無鹵素材料分析(Halogen Free)2、應(yīng)用於無鹵素材料分析(Halogen Free),加裝配件可再做全氟辛烷硫磺酸(PFOA/S)等分析