膜厚儀報價服務(wù)為先【大塚電子】

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

　膜厚儀最直接的鍍膜操縱方法是石英晶體微量平衡法(QCM)，此法可以直接驅(qū)動蒸發(fā)祥，通過PID控制循環(huán)驅(qū)動擋板，保持蒸發(fā)速率。只有將儀器與系統(tǒng)控制軟件相連接，它就可能節(jié)制全體的鍍膜進程。然而QCM的正確度是有限的，部分起因是由于它監(jiān)控的是被鍍膜的質(zhì)量而不是其光學(xué)厚度。此外誠然QCM在較低溫度下無比牢固，但溫度較高時，它會變得對溫度非常敏感。在長時間的加熱過程中，很難制止傳感器跌入這個敏感區(qū)域，從而對膜層造成重大誤差。

對于國內(nèi)眾多真空鍍膜廠家而言，需要在大批量的生產(chǎn)線上就能控制好鍍膜產(chǎn)品的鍍膜層厚度均勻性。那就需要使用膜厚測試儀，在真空鍍膜生產(chǎn)線上實行連續(xù)監(jiān)測，才能保證真空鍍膜產(chǎn)品的質(zhì)量，同時提高真空鍍膜設(shè)備的在線生產(chǎn)效率，減少生產(chǎn)成本。由于真空鍍鋁薄膜上的鍍鋁層非常薄，因此通常都是需要使用光密度法膜厚測試儀來檢測。光密度（OD）定義為材料遮光能力的表征。它用透光鏡測量。光密度沒有量綱單位，是一個對數(shù)值，通常僅對鍍鋁薄膜和珠光膜進行光密度測量。

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 膜厚測試儀的簡易故障排除 1、燈閃爍：樣品出入門沒有關(guān)好(處理：關(guān)閉樣品出入門)。

2、不能準(zhǔn)確找到測量點：視頻成相不清晰(處理：用控制器調(diào)節(jié)樣品的測量位置， 3、視頻窗無樣品成相顯示：樣品位置放置不正確(處理：正確放置好樣品)。 4、主體與軟件連接不上(處理：重新連接好主體與電腦操作軟件)。 5、電腦操作軟件出錯(處理：關(guān)閉儀器，退出軟件程序重新啟動)。 6、膜厚測試儀測量結(jié)果與預(yù)估值相差巨大：測量程序與樣品成分不符合(處理：重新選擇或者建立與樣品相符合的程序）。

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膜厚儀的特點

　　1、自動對焦作用。配備激光自動對焦作用，能夠準(zhǔn)確對焦，提高量測效率。

　　2、具有焦點距離切換作用，適用于有凹凸的機器部件與電路板的底部進行量測

　　3、 膜厚儀 采用檢量線法和FP法，兩個準(zhǔn)直器可自動切換，采用激光自動對焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器，可防止在對焦時造成的損壞。

　　4、選用Mo靶材X射線管，量測貴金屬更靈敏。