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顯微鏡的重要光學技術(shù)參數(shù)
在鏡檢時,人們總是希望能得到清晰而明亮的理想圖像,這就需要顯微鏡的各項光學技術(shù)參數(shù)達到一定的標準,并且要求在使用時,必須根據(jù)鏡檢的目的和實際情況來協(xié)調(diào)各參數(shù)的關(guān)系。只有這樣,才能充分發(fā)揮顯微鏡應(yīng)有的性能,得到滿意的鏡檢效果。 顯微鏡的重要光學技術(shù)參數(shù) 顯微鏡的光學技術(shù)參數(shù)包括:數(shù)值孔徑、分辨率、放大率、焦深、工作距離等等。這些參數(shù)并不都是越高越好,它們之間是相互聯(lián)系又相互制約的,在使用時,應(yīng)根據(jù)鏡檢的目的和實際情況來協(xié)調(diào)參數(shù)間的關(guān)系。
激光掃描共聚焦熒光顯微鏡
激光掃描共聚焦熒光顯微鏡(laser scanning confocal microscopy, LSCM或CLSM),放大倍數(shù)幾百到幾萬,分辨率與入射光波長有關(guān),約幾百納米,可三維成像。 帶你了解現(xiàn)代科研中的顯微鏡 其實這種顯微鏡主要用于生物學,但其去除熒光功能的版本在材料學中,比如觀察金相、機件的加工粗糙度,得到表面附近的三維圖像。 其實其三維成像原理并不復(fù)雜,只是在光源和光前分別加裝了一個帶的擋光板,仔細觀察下面的光路圖,相信你很快就能明白。
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應(yīng)用較多
透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應(yīng)用較多。由于電子易散射或被物體吸收,故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到后的成像質(zhì)量,必須制備更薄的超薄切片,通常為50~100nm。所以用透射電子顯微鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。常用的方法有:超薄切片法、冷凍超薄切片法、冷凍蝕刻法、冷凍斷裂法等。對于液體樣品,通常是掛預(yù)處理過的銅網(wǎng)上進行觀察。然而,這些操作都是相當復(fù)雜的,而且本身TEM的操作系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)、預(yù)熱過程、保養(yǎng)維護都非常復(fù)雜,儀器本身也相當精密且貴重,更何況大多數(shù)情況下我們不須要觀察到如此細小的尺寸,故TEM實際應(yīng)用的并不多,可能只在物理學或者納米領(lǐng)域應(yīng)用較多。
我們迫切需要更敏銳的顯微鏡,來幫助科學家解決重要的世界難題
我們迫切需要更敏銳的顯微鏡,來幫助科學家解決重要的世界難題:太陽能、蓄電池和燃料電池,計算機存儲芯片和固態(tài)照明,這些材料都需要向更發(fā)展。而通過顯微鏡得到的原子的三維圖像,將會為我們揭示,原子之間的相互作用是如何實現(xiàn)或限制材料功能的;重要的是,我們可以從中得知應(yīng)該如何增強材料功能。 對于電子和掃描探針顯微鏡,一些附加信號(如輻射光或電子流等)可能會被同時收集。因此,科學家可以測試,特定的晶格缺陷會不會抵消或增強固態(tài)照明或太陽能電池的效果,一個分子是如何與基質(zhì)相互作用的,或者局部極化梯度如何影響鐵電和極性材料的氧化態(tài)和磁性性能。