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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。寬闊的波長量測范圍。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量測范圍。(1nm~250μm)對應顯微鏡下的微距量測口徑。
FE3000反射式膜厚量測儀:產(chǎn)品特點非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計。、高再現(xiàn)性量測紫外到近紅外波長反射率光譜,分析多層薄膜厚度、光學常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。
可在軟件上設定激發(fā)光源的波長及步值,實現(xiàn)自動測量
電流-量子效率曲線
電流-光通量曲線
電流-功率曲線
電流-色溫曲線
電流-色坐標曲線
電流-顯色性曲線
電流-電壓曲線
石英材質液體比色皿,光學透過率大于98%,全波段無熒光反應,用于液體樣品測試(3個)。尺寸:12.5mm*12.5mm*140mm
熒光材料樣品所反射的激發(fā)光,在積分球內(nèi)壁上反射,并再次照射到熒光材料樣品上,發(fā)出熒光的現(xiàn)象叫做再激發(fā)。為了修正這個熒光發(fā)光的成份,如圖所示,改變Xe激發(fā)光(投光用光纖)的角度,將激發(fā)光的照射點改為樣品口的硫i酸鋇(或Spectralon)一面來進行測試。這樣可以將對積分球內(nèi)壁上漫反射引起的再激發(fā)熒光成份進行測試,實行修正。