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頭部集成了薄膜厚度測量所需功能
通過顯微光譜法測量高i精度絕i對反射率(多層膜厚度,光學常數)
1點1秒高速測量
顯微分光下廣范圍的光學系統(tǒng)(紫外至近紅外)
區(qū)域傳感器的安全機制
易于分析向導,初學者也能夠進行光學常數分析
獨立測量頭對應各種inline客制化需求
支持各種自定義
測量項目:
絕i對反射率測量
多層膜解析
光學常數分析(n:折射率,k:消光系數)
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學特性評價?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產業(yè)以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業(yè)以及其相 關材料的光學特性評價?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢!
硬涂層膜厚度的測量[FE-0004]
近年來,使用具有各種功能的高i性能薄膜的產品被廣泛使用,并且根據應用不同,還需要提供具有諸如摩擦阻力,抗沖擊性,耐熱性,薄膜表面的耐化學性等性能的保護薄膜。通常保護膜層是使用形成的硬涂層(HC)膜,但是根據HC膜的厚度不同,可能出現不起保護膜的作用,膜中發(fā)生翹曲,或者外觀不均勻和變形等不良。 因此,管理HC層的膜厚值很有必要。
膜厚測試儀調校步驟:選擇要調校的產品程式;選擇菜單“調校---調?!遍_始進行“調?!逼聊蛔笙陆堑闹噶畲翱跁霈F,按“確定”結束調校。
膜厚儀如何系統(tǒng)校準?
校準的方法、種類,這是新用戶經常會遇到的問題。系統(tǒng)校準、零點校準還有兩點校準其實都已經在說明書上寫到了,用戶只需仔細閱讀就可以了。需要注意的是:在校準鐵基時1好是多測量幾次以防止錯誤操作;系統(tǒng)校準的樣片要按照從小到大的順序進行。如果個別標準片丟失可以找與其數值相近的樣片代替。