西藏吉天ICP光譜儀生產(chǎn)廠家服務(wù)至上

使用ICP光譜儀環(huán)境很重要

如果室內(nèi)濕度過(guò)大，ICP光譜分析儀中的光學(xué)元件、光電元件、電子元件等受到潮濕后，易發(fā)生銹蝕、霉變等現(xiàn)象導(dǎo)致儀器接觸不良、性能下降，甚至報(bào)廢。潮濕的環(huán)境還容易使儀器的絕緣性能變差，產(chǎn)生不安全的因素。以上就是給ICP光譜儀防塵介紹，如果您還有關(guān)于光譜儀的問(wèn)題，歡迎咨詢小編。例如在ICP光譜分析儀光學(xué)系統(tǒng)里光柵因濕度過(guò)大容易受潮發(fā)毛燒壞出現(xiàn)電容打火、高頻發(fā)生器使等離子體不容易點(diǎn)燃等現(xiàn)象，嚴(yán)重時(shí)還會(huì)發(fā)生高壓電源和高壓電路放毀元件導(dǎo)致高頻發(fā)生器損害，如功率管被擊穿，輸出電路阻抗匹配、網(wǎng)絡(luò)中的可變電容放電等。

ICP光譜儀的校正方法

分析校正

分析校正是為了讓所測(cè)元素濃度與儀器所檢測(cè)到的光強(qiáng)度建立起聯(lián)系，就是我們常說(shuō)的做標(biāo)準(zhǔn)曲線，輸^事先配好的標(biāo)樣值，再讓儀器對(duì)其進(jìn)行檢測(cè)，讓檢測(cè)值與濃度之間建立起關(guān)系曲線，未知樣品濃度按照該曲線及所；剛得濃度值得出。在ICP—OES的分馓正中，檢測(cè)值與濃度之間—般是線性關(guān)系。在我國(guó)國(guó)內(nèi)一般實(shí)驗(yàn)室都不具備過(guò)濾塵埃、防塵的設(shè)施，因此光譜儀需要進(jìn)行防塵處理。

在實(shí)際工作中，存在其他元素峰對(duì)所測(cè)元素峰有干擾的情況時(shí)，可以通過(guò)調(diào)節(jié)計(jì)算方法及火焰觀測(cè)方式來(lái)減小誤差，提高線性相關(guān)系數(shù)。這里需要說(shuō)明線性相關(guān)系數(shù)是準(zhǔn)確度的必要不充分條件

ICP光譜法的優(yōu)點(diǎn)

1. 因?yàn)镮CP光源具有良好的原子化、激發(fā)和電離能力，所以它具有很好的檢出限。對(duì)于多數(shù)元素，其檢出限一般為0.1～100ng/ml。

2. 因?yàn)镮CP光源具有良好的穩(wěn)定性，所以它具有很好的精密度，當(dāng)分析物含量不是很低即明顯高于檢出限時(shí)，其RSD一般可在1%以下，好時(shí)可在0.5%以下。

3. 因?yàn)镮CP發(fā)射光譜法受樣品基體的影響很小，所以參比樣品無(wú)須進(jìn)行嚴(yán)格的基體匹配，同時(shí)在一般情況下亦可不用內(nèi)標(biāo)，也不必采用添加劑，因此它具有良好的準(zhǔn)確度。這是ICP光譜法的優(yōu)點(diǎn)之一。

1. ICP發(fā)射光譜法的分析校正曲線具有很寬的線性范圍，在一般場(chǎng)合為5個(gè)數(shù)量級(jí)，好時(shí)可達(dá)6個(gè)數(shù)量級(jí)。

2. ICP發(fā)射光譜法具有同時(shí)或順序多元素測(cè)定能力，特別是固體成像檢測(cè)器的開(kāi)發(fā)和使用及全譜直讀光譜儀的商品化更增強(qiáng)了它的多元素同時(shí)分析的能力。

3. 由于ICP發(fā)射光譜法在一般情況下無(wú)須進(jìn)行基體匹配且分析校正曲線具有很寬的線性范圍，所以它操作簡(jiǎn)便易于掌握，特別是對(duì)于液體樣品的分析。