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天津掃描電鏡分析費(fèi)用價(jià)格合理 9d實(shí)驗(yàn)室電鏡測(cè)試

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發(fā)布時(shí)間:2021-09-02 02:23  








高分辨率臺(tái)式掃描電鏡易于掌握

高分辨率臺(tái)式掃描電鏡是電鏡系列中先進(jìn)的產(chǎn)品,第五代放大倍數(shù)提升為150,000 倍,分辨率優(yōu)于8nm,30 秒快速得到表面細(xì)節(jié)豐富的高質(zhì)量圖像,是目前世界上分辨率高的臺(tái)式掃描電鏡,可用于測(cè)量亞微米或納米尺度的樣品,繼承了電鏡系列高分辨率、15秒快速抽真空、不噴金觀看絕緣體、全自動(dòng)操作、2-3年更換燈絲及防震設(shè)計(jì)等優(yōu)點(diǎn)。

高分辨率臺(tái)式掃描電鏡更加簡單易用的導(dǎo)航模式,更加快速的操作模式;同時(shí)刻進(jìn)行二次電子像和背散射電子像收集;更加先進(jìn)的低真空模式;全新升級(jí)的分析軟件,舒適通用;從1kV-30kV同標(biāo)準(zhǔn)電鏡相同的全加速電壓量程;能進(jìn)行生物樣品和材料樣品的自動(dòng)設(shè)置,提高和擴(kuò)大了實(shí)驗(yàn)室內(nèi)的光學(xué)顯微鏡或掃描電子顯微鏡儀器的分辨率和景深。高分辨率臺(tái)式掃描電鏡預(yù)先設(shè)定方案的自動(dòng)和手動(dòng)控制,高真空和低真空模式,對(duì)導(dǎo)體和非導(dǎo)體樣品無需進(jìn)行如涂層和干燥等特殊的樣品處理準(zhǔn)備。


桌面掃描電鏡是操作工程的產(chǎn)品

桌面掃描電鏡介于光學(xué)顯微鏡和大型掃描電鏡之間,充分滿足用戶對(duì)于大景深高分辨的微觀形貌形態(tài)觀測(cè)需要,同時(shí)可接配的背散射電子探測(cè)器和小型能譜儀滿足用戶對(duì)于微區(qū)化學(xué)成分分布的表征需要。

桌面掃描電鏡占地空間小,操作簡單方便,可以類似傻瓜相機(jī)來使用,zui主要的,小型臺(tái)式機(jī)價(jià)格較低,大大促進(jìn)了電子顯微鏡在材料研制中的普及應(yīng)用。桌面掃描電鏡20KV二次電子分辨率達(dá)到7nm,是目前所有臺(tái)式掃描電鏡的zui高水平。標(biāo)準(zhǔn)配置的兩軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái),全自動(dòng)真空系統(tǒng),全自動(dòng)的電子光學(xué)調(diào)控系統(tǒng),可以讓用戶從開始到結(jié)束都可以用手指在觸摸屏上進(jìn)行操作。


臺(tái)式掃描電鏡在建筑中的研究

臺(tái)式掃描電鏡在建筑領(lǐng)域中的研究

納米材料具有納米級(jí)別尺寸、比表面積大、表面能高等特點(diǎn),可用于改性水泥基材料,研究表明:納米材料可以有效地改善水泥、砂漿混凝土的多種性能。

納米材料的尺寸較小,可以填補(bǔ)水泥顆粒間的空隙,從而改善體系的顆粒級(jí)配,可有效改善抗?jié)B性,提高材料強(qiáng)度和耐久性。

掃描電鏡作為一種常見的微觀分析方法,已廣泛應(yīng)用于納米材料改性水泥材料研究中,可以觀察改性水泥的孔隙率以及納米材料的填充情況。同時(shí),掃描電鏡也可以觀察納米材料在水泥中的分散情況。

納米材料具有較高的表面活性,導(dǎo)致其顆粒容易發(fā)生團(tuán)聚,分散良好的納米材料相對(duì)于同種未經(jīng)分散的納米材料會(huì)使改性水泥的部分性能表現(xiàn)的更好。因此利用掃描電鏡研究納米材料在水泥基料中的分散具有十分重要的意義。


掃描電鏡的應(yīng)用

掃描電鏡的應(yīng)用 首先,掃描電鏡應(yīng)用是不是經(jīng)常性的并且需求明確的?假如是這樣,臺(tái)式掃描電鏡可以提供所需要的信息,為什么要花費(fèi)更多?對(duì)于未來需求超過臺(tái)式掃描電鏡性能的擔(dān)憂,應(yīng)該依據(jù)潛在需求的確定性以及時(shí)機(jī),還有對(duì)更高要求使用的外部資源可用性來進(jìn)行評(píng)估。   就算以后需求超過臺(tái)式掃描電鏡能力,臺(tái)式掃描電鏡的初始投資也能夠繼續(xù)提供回報(bào),由于這種系統(tǒng)可以使用于補(bǔ)充以后的落地式掃描電鏡系統(tǒng),比方說篩選樣品或者接著執(zhí)行日常分析,落地式掃描電鏡使用于要求非常高的應(yīng)用。   建立大型分析測(cè)試中心的時(shí)候,掃描電鏡能夠起到承上啟下的功用,前期可以滿足大多數(shù)的測(cè)試需求,后面能夠從外部應(yīng)用者對(duì)于更性能需求以及成本進(jìn)行基于經(jīng)驗(yàn)的評(píng)估,有針對(duì)性地完善整個(gè)掃描電鏡測(cè)試系統(tǒng)。


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