ELSZ粒度儀常用解決方案“本信息長期有效”

特點(diǎn)

使用了型高感度APD，感度提升及縮短測量時(shí)間

通過測量自動(dòng)溫度梯度空間，可分析出変性?相轉(zhuǎn)移溫度

可測量0～90℃大范圍內(nèi)的溫度

追加了大范圍的分子量測量及解析功能

懸濁類高濃度樣品的粒徑?ZETA電位的測量

實(shí)測cell內(nèi)的電氣滲透流，解析plot，提供高精度的ZETA 電位測量結(jié)果

高鹽濃度溶液的ZETA電位測量

小面積樣品的平板ZETA電位測量

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

粒徑測量原理：動(dòng)態(tài)光散射法（光子相關(guān)法）

溶液中的粒子會呈現(xiàn)出 依賴于粒徑的布朗運(yùn)動(dòng)。因此，當(dāng)光照射到此粒子上而得到的散射光會出現(xiàn)浮動(dòng)，小粒子浮動(dòng)速度快，大粒子浮動(dòng)速度慢。

通過光子相關(guān)法解析這種浮動(dòng)，從而求出粒徑或粒度分布。

高濃度類樣品的ZETA電位測量原理

因受多重散射或吸收等的影響，用ELSZ series是很難測量光難以透過的濃厚樣品或有色樣品的。

現(xiàn)在，ELSZseries的標(biāo)準(zhǔn)cell可對應(yīng)低濃度類到高濃度類的大范圍的樣品測量。并且，通過采用了FST法*的高濃度類cell，可測量出高濃度樣品的ZETA電位。

ELSZ-2000Z

測量原理 雷射都卜勒法（Laser Doppler）

光源 高功率、高穩(wěn)定性半導(dǎo)體鐳射

感光元件 高感度APD

樣品容器 標(biāo)準(zhǔn)樣品容器、微量(130μl~)可拋式樣品容器或高濃度樣品容器

溫度范圍 0 ~ 90℃ （具備梯度功能）

電源規(guī)格 100V ± 10% 250VA，50 / 60 Hz

尺寸 380（W） × 600（D） × 210（H）mm

重量 約22kg