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測試， High Current Test耐電流測試

HCT耐電流測試是耐電流測試的一種方法。耐電壓測試儀在吸收、消化耐壓測試的基礎(chǔ)上，結(jié)合我國眾多用戶的實際使用情況加以提高、完善。測試中，孔鏈被施加一恒定的直流電流,使得孔鏈在設(shè)定的時間(t1-t0)內(nèi)升高到設(shè)定的高溫T1，然后繼續(xù)施加此電流,使得孔鏈在溫度T1至T2范圍以內(nèi),保持設(shè)定的時間(t2-t1),然后停止施加電流，使孔鏈冷卻時間(t3-t2),直到達(dá)到室溫。

在測試過程中，需要實時檢測孔鏈的電阻，電流。

耐電流參數(shù)測試儀主要特點如下

雙面測試

對于測試樣品孔鏈為在電路板兩面對稱設(shè)計時，儀器可以使用雙面測試，即對兩面的兩個孔鏈同時施加測試電流，測試上表面孔鏈的溫度。

●初始電阻篩選

可以設(shè)定測試前初始電阻的上下限閥值，符合初始電阻要求的樣品才繼續(xù)進(jìn)行測試。

●測試過程數(shù)據(jù)曲線顯示

測試過程中，樣品的溫度，溫度變化速度，電阻，電流分別實時動態(tài)顯示。

數(shù)據(jù)曲線均可以雙擊放大進(jìn)行觀察分析。

●測試過程數(shù)據(jù)表格顯示

樣品測試完成后，樣品的測試條件以及測試結(jié)果顯示在測試表格中。

測試結(jié)果是否失效統(tǒng)計顯示。

表格數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出為MS Excel格式文件。

保存的數(shù)據(jù)也可以重新調(diào)入表格顯示。

●測試樣品開路檢測和探針接觸不良檢測

測試中，如果發(fā)生樣品失效或者開路，儀器可以自動檢測并判斷，并對用戶進(jìn)行提示。

測試中，如果探針接觸不良，儀器可以自動檢測并判斷，并對用戶進(jìn)行提示。

●超溫保護(hù)

儀器可以設(shè)定測試時測試樣品超過一定溫度時斷開測試電流，以對測試樣品進(jìn)行保護(hù)，十分方便用戶對缺陷測試樣品進(jìn)行失效分析，從而找到失效的根本原因。

HDI板盲孔互聯(lián)失效原因

除膠渣不凈　　

去環(huán)氧鉆污或除膠渣是盲孔電鍍個極為重要的流程，它對孔壁銅與內(nèi)層銅連接的可靠性起著至關(guān)重要的作用。威太(蘇州)智能科技有限公司位于昆山國家高新技術(shù)開發(fā)區(qū),是一家專業(yè)提供PCB/PCBA集成測試系統(tǒng),光學(xué)影像檢測系統(tǒng),自動化測試解決方案的科技型公司。因為一層薄薄的樹脂層可能會使盲孔處于半導(dǎo)通狀態(tài)。在E-TEST測試時由于測針壓力作用可能會通過測試，而板件裝配后就可能發(fā)生開路或接觸失靈等問題。然而以手機(jī)板為例，每拼板上大約有7~10萬個盲孔，除膠處理時難免偶有閃失。

　　由于目前各廠家的凹蝕藥l水體系都已經(jīng)很完善了，因此只有嚴(yán)密監(jiān)視槽液，在其即將出問題之前，當(dāng)機(jī)立斷更換槽液才能保證應(yīng)有的良率。