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顯微鏡的重要光學技術(shù)參數(shù)

分辨率 分辨率是衡量顯微鏡性能的又一個重要技術(shù)參數(shù)，用公式表示為：d=0.61λ/NA，式中d為分辨距離，λ為光線的波長，NA為物鏡的數(shù)值孔徑。 顯微鏡的重要光學技術(shù)參數(shù) 可見物鏡的分辨率是由物鏡的NA值與照明光源的波長兩個因素決定。NA值越大，照明光線波長越短，則d值越小，分辨率就越高。 要提高分辨率，可采取以下措施。 1、降低波長λ值，使用短波長光源。 2、曾大介質(zhì)η值和提高NA值。 3、消色差。 4、增加明暗反差。

金相光學顯微鏡的光源處增加起偏器

在金相顯微鏡的基礎(chǔ)上，我們又拓展出了巖相顯微鏡（偏光顯微鏡），因為其常用于觀察巖石、水泥等無機材料而得名。其本質(zhì)上就是在金相光學顯微鏡的光源處增加起偏器，鏡筒處增加檢偏器，也就是方向相互垂直的偏振片。 　　主要原理便是光在通過雙折射體時方向會變換90°，便可以被觀察到；而光通過單折射體時方向不變換，在觀察時便無法看到。

SEM的優(yōu)點是,1有較高的放大倍數(shù),2

SEM的優(yōu)點是，①有較高的放大倍數(shù)，2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；③試樣制備簡單，導電樣品可以直接觀察。如果是非導電樣品則需要覆上導電層 目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置，這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析，因此它是當今十分有用的科學研究儀器。

偏光鏡檢術(shù)的方式及要求

偏光鏡檢術(shù)的方式 正相鏡檢：又稱無畸變鏡檢，其特點是使用低倍物鏡，不用伯特蘭透鏡，同時為使照明孔徑變小，推開聚光鏡的上透鏡。正相鏡檢用于檢查物體的雙折射性。 錐光鏡檢：又稱干涉鏡檢，這種方法用于觀察物體的單軸或雙軸性。 顯微鏡的分類和特點 偏光顯微鏡在裝置上的要求 1、光源：采用單色光，因為光的速度，折射率和干涉現(xiàn)像因波長的不同而有差異。 2、目鏡：要帶有十字線的目鏡。 3、聚光鏡：為了取得平行偏光，應使用能推出上透鏡的搖出式聚光鏡。 4、伯特蘭透鏡：這是把物體所有造成的初級相放大為次級相的輔助透鏡。