進(jìn)口手持光譜儀歡迎來(lái)電「多圖」

美國(guó)SciAps Inc.(賽普司)始于1998年，總部位于美國(guó)波士頓，是較早專(zhuān)注于便捷式元素分析光譜研發(fā)的高新技術(shù)企業(yè)。是聯(lián)合國(guó)核查組織認(rèn)可的技術(shù)享有者之一，經(jīng)過(guò)二十年的積累，已成為從事全產(chǎn)品線手特光譜分析設(shè)備的研究機(jī)構(gòu)。

◆分析其它手持設(shè)備不能檢測(cè)的金屬(Li、Be、B. Na)和非金屬元素,例如識(shí)別鈹銅合金,鋁鈦硼合金,鋰鋁合號(hào)。

◆因LIBS 檢測(cè)斑點(diǎn)很小,為超小超薄材料、鍍層、焊縫成份的檢測(cè)提供了快速的檢測(cè)手段。

天津市聯(lián)創(chuàng)蔚萊科技發(fā)展有限公司，坐落于陳塘國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū)。以南京理工大學(xué)北方研究院為載體，立足天津，輻射周邊，通過(guò)創(chuàng)新的合作共贏模式，匯聚了國(guó)內(nèi)外理化儀器的生產(chǎn)企業(yè)。

應(yīng)用

用于現(xiàn)場(chǎng)分析合號(hào)與元素。

鍍層厚度分析

選配鍍層模式,就可以用X系列分析儀測(cè)出金屬鍍層的厚度。

歡迎廣大客戶朋友來(lái)電咨詢！期待我們合作愉快！

◆對(duì)于進(jìn)料、精礦、尾料的實(shí)時(shí)分析,使得在處理廠內(nèi)就可以對(duì)材料的配量隨時(shí)進(jìn)行調(diào)整

◆在礦場(chǎng)應(yīng)用中,通常需要對(duì)具體的樣本和基質(zhì)進(jìn)行特別校準(zhǔn)

操作簡(jiǎn)單，兼容性好的操作平臺(tái)

SciAps X 系列分析儀與手機(jī)一樣運(yùn)行安卓系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)單，兼容性好，可以通過(guò)藍(lán)牙或無(wú)線與電腦及打印機(jī)連接，分享與打印測(cè)試結(jié)果。