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發(fā)布時間:2021-10-28 08:02  

測試參數(shù): ICES 集電極-發(fā)射極漏電流 IGESF 正向柵極漏電流 IGESR 反向柵極漏電流 BVCES 集電極-發(fā)射極擊穿電壓 VGETH 柵極-發(fā)射極閾值電壓 VCESAT 集電極-發(fā)射極飽和電壓 ICON 通態(tài)電極電流 VGEON 通態(tài)柵極電壓 VF 二極管正向?qū)▔航? 整個測試過程自動完成,電腦軟件攜帶數(shù)據(jù)庫管理查詢功能,可生成測試曲線,方便操作使用。電流 通過選擇不同檔位電感,滿足0~200A電流輸出需求(10ms)。


9、系統(tǒng)保護功能

9.1 有完備的安全控制單元,動態(tài)測試設(shè)備有傳感器來保證操作者安全,設(shè)備任何門被打開均能快速切斷高壓電源。

9.2 有急停按鈕,當(dāng)急停按鈕被按下時,迅速切斷所有高壓電源。

9.3 系統(tǒng)帶有短路保護功能,在過載時迅速斷開高壓高電流。

9.4 操作系統(tǒng)帶有多級權(quán)限。

9.5 系統(tǒng)應(yīng)配有內(nèi)置ups,保證計算機系統(tǒng)在電網(wǎng)短時間掉電情況下,為系統(tǒng)供電0.5小時以上,確保系統(tǒng)及數(shù)據(jù)安全。

10、樣品夾具

10.1 有通用測試夾具。

10.2 帶有62mm封裝測試夾具

10.3 帶有EconoPACK3封裝測試夾具

10.4 帶有34mm封裝測試夾具


開通特性測試采用雙脈沖測試法。由計算機設(shè)定并控制輸出集電極電壓VCC值到被測器件的測試要求值(一般為被測器件額定電壓的1/2),設(shè)定±VGG到測試要求值,計算機控制接通開關(guān)S1,并控制輸出被測雙脈沖觸發(fā)信號,開通和關(guān)斷被測器件兩次,被測器件次開通后,集電極電流IC上升,直至被測器件飽和導(dǎo)通且IC達(dá)到測試規(guī)定值時,關(guān)斷被測器件(設(shè)為t1時刻),之后電感L經(jīng)二極管(Q1內(nèi)部二極管)續(xù)流,IC迅速減小,直至IC降為零時,第二次開通被測器件(設(shè)為t2時刻),此后電感L中的電流向IC轉(zhuǎn)移,IC迅速上升(若L足夠大,t1~t2間隔足夠短,L中的電流可視為恒流),直至被測器件再次達(dá)到飽和導(dǎo)通時(設(shè)為t3時刻),關(guān)斷被測器件。電子電力產(chǎn)品生產(chǎn)、檢修廠——應(yīng)用本公司測試系統(tǒng)可對所應(yīng)用到的半導(dǎo)體元器件,尤其對現(xiàn)代新型IGBT大功率器件的全參數(shù)進(jìn)行智能化測試、篩選、分析,以確保出廠產(chǎn)品的穩(wěn)定性、可靠性。記錄下被測器件IC、VCE以及VGE在t2~t3之間的導(dǎo)通波形,其中,VCE采樣到示波器的CH1通道,IC取樣到示波器的CH2通道,VGE采樣到示波器的CH3通道,示波器通過光通訊方式將測試波形傳輸給計算機,由計算機對測試波形進(jìn)行分析與計算,后顯示測試結(jié)果。


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