相控陣超聲檢測(cè)-相控陣超聲檢測(cè)價(jià)格-北京納克無損(推薦商家)

超聲相控陣的角度補(bǔ)償

傳統(tǒng)工業(yè)相控陣定量方法不具有角度、聲程、晶片增益修正技術(shù)，相控陣超聲檢測(cè)，多晶片探頭通過楔塊入射到工件內(nèi)部時(shí)存在入射點(diǎn)漂移現(xiàn)象和能量分布變化。采用單一入射點(diǎn)校準(zhǔn)方式與常規(guī)距離-波幅曲線修正，造成的扇形掃查區(qū)域中能量分布不均勻及測(cè)量誤差等問題未能有效解決，如圖7 所示。而ISONIC-UPA 相控陣設(shè)備具有角度補(bǔ)償功能，能有效地解決此類問題。

所謂角度補(bǔ)償就是針對(duì)不同的聚焦法則，輸入扇形掃查所需的角度范圍及入射角度的增量后，晶片可以分別進(jìn)行角度增益調(diào)整，相控陣超聲檢測(cè)方案，也就是晶片角度增益修正。

有了角度增益補(bǔ)償設(shè)置功能，相控陣超聲檢測(cè)哪家好，可以取代傳統(tǒng)的通過設(shè)置DAC曲線的方法來補(bǔ)償增益變化。在ASME Case2557 標(biāo)準(zhǔn)中明確指出進(jìn)行扇形掃描時(shí)要進(jìn)行角度增益補(bǔ)償。角度增益補(bǔ)償曲線如圖8所示，經(jīng)過角度補(bǔ)償后得到的等量化數(shù)據(jù)。

雙晶線陣腐蝕檢測(cè)用超聲相控陣探頭的設(shè)計(jì)開發(fā)

根據(jù)腐蝕檢測(cè)的應(yīng)用需求，依靠多年的相控陣探頭開發(fā)經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合國外先進(jìn)的解決方案理念，設(shè)計(jì)開發(fā)了國產(chǎn)雙晶線陣腐蝕檢測(cè)相控陣探頭，并配合國產(chǎn)的相控陣檢測(cè)系統(tǒng)，針對(duì)國內(nèi)實(shí)際應(yīng)用環(huán)境和需求，開發(fā)出應(yīng)用軟件.探頭性能指標(biāo)達(dá)到一定的水平，配合軟件可以滿足國內(nèi)工業(yè)環(huán)境中的多種腐蝕檢測(cè)需求，相控陣超聲檢測(cè)價(jià)格，可以替代國外同類型產(chǎn)品，并更好地滿足國內(nèi)需求。

不同類型的相控陣超聲檢測(cè)

扇形掃描即S掃描，在設(shè)定深度上，相控陣探頭按聚焦法則分別計(jì)算每個(gè)偏轉(zhuǎn)角度得聚焦延遲，激發(fā)時(shí)以從左至右的順序分別激發(fā)，形成一定范圍內(nèi)的扇形掃查。掃查時(shí)須要設(shè)置扇掃范圍、角度間隔和聚焦深度。右圖給出了扇形掃查的檢測(cè)原理和掃查成像圖。

線性掃描又稱電子掃查。掃描時(shí)先將探頭陣元分為數(shù)量相同的若干小組，由延遲器傳輸?shù)挠|發(fā)脈沖分別依次激發(fā)各小組陣元，檢測(cè)聲場(chǎng)在空間中以恒定角度對(duì)探頭長度方向進(jìn)行掃查檢測(cè)。

線性掃查檢測(cè)前須要設(shè)定好陣元數(shù)、聚焦深度。右圖給出了線性掃描的檢測(cè)原理和掃描成像圖。

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