FCT功能測(cè)試系統(tǒng)廠家-FCT功能測(cè)試系統(tǒng)-洋嘉電子

fct功能測(cè)試治具定位原理

以“孔/孔”定位

對(duì)于狹長(zhǎng)形的UUT，由于其容易變形，使用上述1和2的方式均需要用到電路板的外緣輪廓，因此并不準(zhǔn)確，此時(shí)應(yīng)采用雙孔定位。注意對(duì)于變形較大的UUT，此孔的位置也不宜選在電路板的兩端，但兩孔間距也不宜過(guò)小，設(shè)計(jì)時(shí)定位柱和定位孔的間隙適量放大，一般在0.1mm～0.3mm。綜上可見(jiàn)，電路板的定位對(duì)于治具設(shè)計(jì)極為重要，F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)廠家，不同的定位方式直接影響到定位精度及測(cè)試設(shè)備的結(jié)構(gòu)， 因此定位方式的選擇很重要。綜合考慮以上各種現(xiàn)行方案的優(yōu)缺點(diǎn)，設(shè)計(jì)為 “一面兩空”的定位方式，F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)，如下如所示，即利用UUT的一個(gè)平面和兩個(gè)（或多個(gè)）定位孔，特點(diǎn)是制取方法容易、夾具結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、制造加工容易，、滿足精度要求。

FCT功能測(cè)試系統(tǒng)概述

功能測(cè)試涉及負(fù)載、機(jī)構(gòu)、模擬、數(shù)字、存儲(chǔ)器、RF和電源電路，通常要用不同的測(cè)試策略。測(cè)試包括大量實(shí)際重要功能通路及結(jié)構(gòu)驗(yàn)證（確定沒(méi)有硬件錯(cuò)誤），F(xiàn)CT功能測(cè)試系統(tǒng)價(jià)格，以彌補(bǔ)前面測(cè)試過(guò)程遺漏的部分。這需要將大量模擬/數(shù)字激勵(lì)不斷加到被測(cè)單元（UUT）上，同時(shí)監(jiān)測(cè)同樣多數(shù)量的模擬/數(shù)字響應(yīng)，并完全控制其執(zhí)行過(guò)程。

全自動(dòng)在線功能測(cè)試系統(tǒng)功能在線測(cè)試(ICT)：PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線燒錄等。

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