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ICP光譜儀的校正
光學系統(tǒng)校正
在PROFILE儀器中,操作軟件自動控制儀器每30分鐘快速校正、每2小時完全校正光學系統(tǒng)。如果實驗室環(huán)境溫度變化較大,不能保證工作條件,可能造成測量結果數據漂移。
光學系統(tǒng)校正使用燈,選擇Hg8線(波長253.652nm),儀器內部裝有燈,只要按照操作規(guī)程操作即可。
等離子體位置校正
等離子體位置校正的目的是將光源對準光學系統(tǒng)。通常在重新裝配進樣系統(tǒng)后,ICPAES光譜儀,點燃等離子體,ICPAES光譜儀生產廠家,用Mn溶液(10ug/mL)校正。
在等離子體位置校正過程中,值得注意的是:確保選中Mn 257.610波長、Mn溶液能夠正常進入并形成氣溶膠進入等離子體。如果上述條件沒有滿足,可能造成校正失敗。
ICP光譜儀原理是什么?
ICP光譜儀又稱分析儀,廣泛為認知的為直讀ICP光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。它由一個入射狹縫,散系統(tǒng),ICPAES光譜儀供應商,一個成像系統(tǒng)和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區(qū)域,ICPAES光譜儀報價,并在選定的波長上(或掃描某一波段)進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。
ICP光譜儀的工作原理:
根據現(xiàn)代ICP光譜儀器的工作原理,ICP光譜儀可以分為兩大類:經典ICP光譜儀和新型ICP光譜儀。經典ICP光譜儀器是建立在空間色散原理上的儀器;新型ICP光譜儀器是建立在調制原理上的儀器。經典ICP光譜儀器都是狹縫ICP光譜儀器。調制ICP光譜儀是非空間分析的,它采用圓孔進光。根據色散組件的分析原理,ICP光譜儀器可分為:棱鏡ICP光譜儀,衍射光柵ICP光譜儀和干涉ICP光譜儀。
光學多道分析儀OMA是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器(CCD)和計算機控制的新型光譜分析儀器,它集信息采集,處理,存儲諸功能于一體。
由于OMA不再使用感光乳膠,避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理,測量工作,使傳統(tǒng)的光譜技術發(fā)生了根本的改變,大大改善了工作條件,提高了工作效率;使用OMA分析光譜,測量準確迅速,方便,且靈敏度高,響應時間快,光譜分辨率高,測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機,繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應于對微弱信號,瞬變信號的檢測。
ICP光譜儀的特點
1、 爐中取的樣品只要打磨掉表面氧化皮,固體樣品即可放在樣品臺上激發(fā),免去了化學分析鉆取試樣的麻煩.對于鋁及銅、鋅等有色金屬樣品而言,可用小車床車去表面氧化皮即可.
2、 從樣品激發(fā)到計算機報出元素分析含量只需20-30秒鐘,速度非常快,有利于縮短冶煉時間,降低成本.特別是對那些容易燒損的元素,更便于控制其后的成份.
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