熱釋光退火爐中國代理

熱釋光退火爐介紹

熱釋光退火爐，它與熱， 釋光劑量儀、熱釋光照射器和熱釋光探測器（谷稱：劑量片）配套組成－熱釋光測量系統(tǒng)。它， 用于對γ、β或X射線測量的熱釋光探測器進行老化、退火處理，消除新探測器不穩(wěn)定、測量， 后探測器殘留本底和低溫峰，特別是批量探測器的老化和篩選，可提高熱釋， 光測量的一致性和精密度，提高熱釋光測量的工作效率。

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熱釋發(fā)光原理

熱釋發(fā)光的強度隨發(fā)光體的溫度的變化曲線叫熱釋光曲線。測量時先在低溫（如液He或液N 溫度）下激發(fā)發(fā)光體。選擇加熱方式，可按分析數(shù)據(jù)的需要采取各種時間函數(shù)的變化，常用的是線性加熱。當發(fā)光體從低溫開始受熱升溫時，淺陷阱中的電子先受熱激發(fā)到導帶，熱釋光曲線上升，溫度上升到T時，曲線出現(xiàn)峰值，陷阱釋空時，曲線下降。溫度繼續(xù)上升，在另一溫度T時，曲線又出現(xiàn)峰值，對應于另一更深的陷阱。從曲線高峰的數(shù)目可推斷陷阱大致分為幾種深度，從高峰位置對應的溫度可估計陷阱深度。 近來由于測試技術(shù)的進步，可以測量發(fā)光光譜隨溫度的變化。利用熱釋光曲線研究陷阱是研究固體的一種簡單而重要的方法，此外，還可利用熱釋發(fā)光現(xiàn)象推斷一些古物的年代。物體受射線輻照時間越長，陷阱中俘獲的電子數(shù)越多，熱釋發(fā)光光和（熱釋發(fā)光曲線下面的面積）也越大，因此能反映發(fā)光體受輻照的歷史。測量樣品的熱釋發(fā)光光和并與參照樣品作比較，原則上可推斷化石等樣品的年代。熱釋發(fā)光及光釋發(fā)光現(xiàn)象作用相同，都是釋放陷阱電子，利用熱釋發(fā)光也可制作劑量計。

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熱釋光退火爐的注意事項

（1）檢驗控制電路時，請將后面板上的電源開關(guān)關(guān)閉，并拔下電源線插頭，待控制電路檢修好之后，再接通加熱開關(guān)進行全電路檢驗。

（2）要經(jīng)常開機工作為好，使加熱爐內(nèi)保溫材料處于干燥狀態(tài)，防止因受潮機殼帶電。

（3）要有良好的接地，以保護電路的安全。

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