FE3000-FE-蘇州大塚電子

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行效率測試的系統(tǒng)。

     原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，F(xiàn)E3000，再以光譜儀對產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測試并對其熒光材料特性做出評價(jià)。本系統(tǒng)采用了具有高靈敏度、高穩(wěn)定的本公司的光譜儀對光譜進(jìn)行測量。

光纖在極度彎曲后會有可能發(fā)生斷裂。故，請將彎曲半徑保持在10cm以上(即:不要過于折疊光纖，以免損壞).將樣品放入樣品放置cell內(nèi)，然后放入積分半球內(nèi)。

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

  下圖為積分半球光學(xué)系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會與實(shí)際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。

FE3000反射式膜厚量測儀:主要測試項(xiàng)目：效率測定，F(xiàn)E，效率的激發(fā)波長依賴特性，F(xiàn)E膜厚儀，發(fā)光光譜、反射光譜測定，透過、吸收光譜測量，PL激發(fā)光譜，顏色演算（色度、色溫、演色性等）利用二次激發(fā)熒光校正功能去除再激發(fā)熒光發(fā)光。

解析非線性i小二乘法/波峰波谷解析法/FFT解析法/適化法

基板解析/里面反射補(bǔ)正/各類nk解析模型式

絕i對反射率/解析結(jié)果Fitting/折射率n的波長相關(guān)性/消光系數(shù)k的波長相關(guān)性

3D顯示功能（面內(nèi)膜厚分布、鳥窺圖、等高線、斷面圖）

本儀器是一套使用積分半球?qū)Ρ∧顦悠坊蚍蹱钗飿悠愤M(jìn)行效率測試的系統(tǒng)。

FE3000-FE-蘇州大塚電子由大塚電子(蘇州）有限公司提供。大塚電子(蘇州）有限公司有實(shí)力，信譽(yù)好，在江蘇 蘇州 的機(jī)械加工等行業(yè)積累了大批忠誠的客戶。公司精益求精的工作態(tài)度和不斷的完善創(chuàng)新理念將促進(jìn)大塚電子和您攜手步入**，共創(chuàng)美好未來！