植物抗性淀粉掃描電鏡檢測技術服務-武漢科銳諾(圖)

現(xiàn)在我們發(fā)現(xiàn)束流的設置應該是隨著放大倍數(shù)而變換的，對于TESCAN用戶來說，比較方便，植物抗性淀粉掃描電鏡檢測技術服務，可以直接從軟件中讀取當前電鏡調節(jié)對應的束流，結合視野寬度很容易知道單點像素的大小，從而快速找到束斑與像素匹配的工作條件。既保證了沒有信息丟失，又保證了的束流強度和信噪比。

此外對于EBSD分析也一樣，EBSD分析為了追求速度，需要較大束流，而束流增大會增大束斑，導致花樣重疊無法標定。而TESCAN用戶則可以輕易的根據(jù)EBSD的步長來設置束斑大小，確保在不會出現(xiàn)花樣重疊的情況下束斑達到，采集速度快。

電子顯微鏡是使用電子來展示物件的內(nèi)部或表面的顯微鏡。高速的電子的波長比可見光的波長短（波粒二象性），而顯微鏡的分辨率受其使用的波長的限制，因此電子顯微鏡的理論分辨率（約0.1納米）遠高于光學顯微鏡的分辨率（約200納米）。

透射電子顯微鏡（Transmission electron microscope，縮寫TEM），簡稱透射電鏡 ，是把經(jīng)加速和聚集的電子束投射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏、膠片、以及感光耦合組件）上顯示出來。

大型透射電鏡大型透射電鏡（conventional TEM）一般采用80-300kV電子束加速電壓，不同型號對應不同的電子束加速電壓，其分辨率與電子束加速電壓相關，可達0.2-0.1nm，機型可實現(xiàn)原子級分辨。低壓透射電鏡低壓小型透射電鏡（Low-Voltage electron microscope，LVEM）采用的電子束加速電壓（5kV）遠低于大型透射電鏡。較低的加速電壓會增強電子束與樣品的作用強度，從而使圖像襯度、對比度提升，尤其適合高分子、生物等樣品；同時，低壓透射電鏡對樣品的損壞較小。  分辨率較大型電鏡低，1-2nm。由于采用低電壓，可以在一臺設備上整合透射電鏡、掃描電鏡與掃描透射電鏡



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