全自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)設(shè)備推薦貨源

AOI隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用?；趯?duì)市場(chǎng)和客戶的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI）。

自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI） 為工業(yè)自動(dòng)化有效的檢測(cè)方法，使用機(jī)器視覺(jué)做為檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)，大量應(yīng)用于LCD/TFT、晶體管與PCB工業(yè)制程上，在民生用途則可延伸至保全系統(tǒng)。自動(dòng)光學(xué)檢查是工業(yè)制程中常見(jiàn)的代表性手法，利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來(lái)檢出異物或圖案異常等瑕疵，因?yàn)槭欠墙佑|式檢查，所以可在中間工程檢查半成品。如果在現(xiàn)在使用的工藝中，出現(xiàn)了一個(gè)新的變化，就要增加一個(gè)級(jí)別，來(lái)保證檢查的性。

AOI軟件中有一個(gè)綜合性的驗(yàn)證功能，它能減少檢查的誤報(bào)，保證檢測(cè)程序無(wú)缺陷。優(yōu)良的AOI程序應(yīng)該能夠應(yīng)付這些這影響。如果這些個(gè)別點(diǎn)的變化可以保持不變，那么就能夠相當(dāng)大地簡(jiǎn)化AOI編程。始終采用同樣的材料和產(chǎn)品能夠顯著地減少檢查時(shí)間和誤報(bào)，而這些問(wèn)題主要是通過(guò)元器件以及PCB的突然變化而出現(xiàn)的。經(jīng)研究得到的結(jié)論是，由于無(wú)鉛產(chǎn)生的影響，圖形對(duì)照系統(tǒng)無(wú)法得到適合的檢查結(jié)果，這是因?yàn)楹细竦臉悠纷兓蟆?

實(shí)施AOI有以下兩類(lèi)主要的目標(biāo)：終品質(zhì)對(duì)產(chǎn)品走下生產(chǎn)線時(shí)的終狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控。當(dāng)生產(chǎn)問(wèn)題非常清楚、產(chǎn)品混合度高、數(shù)量和速度為關(guān)鍵因素的時(shí)候，優(yōu)先采用這個(gè)目標(biāo)。AOI通常放置在生產(chǎn)線末端。在這個(gè)位置，設(shè)備可以產(chǎn)生范圍廣泛的過(guò)程控制信息。

人工檢查 AOI檢查

pcb<18*20 幾千個(gè)pad以下

人 重要 輔助檢查

時(shí)間 正常 正常

持續(xù)性 因人而異 （差） 好

可靠性 因人而異 （差） 較好

準(zhǔn)確性 因人而異 誤點(diǎn)率高

時(shí)間 長(zhǎng) 短

與或非（AND OR INVERT）

一種常用邏輯運(yùn)算

AOI為客戶提供專(zhuān)業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。AOI回流焊前檢查是在元件貼放在板上錫膏內(nèi)之后和PCB送入回流爐之前完成的。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。AOI技術(shù)領(lǐng)域非常廣泛，廣義的AOI設(shè)備為結(jié)合光學(xué)傳感系統(tǒng)、訊號(hào)處理系統(tǒng)及分析軟件，應(yīng)用層面可包括宇宙探測(cè)、航空、遙測(cè)、生物醫(yī)學(xué)、工業(yè)生產(chǎn)品質(zhì)檢測(cè)、指紋比對(duì)、機(jī)器人控制、多媒體技術(shù)。