FE3000膜厚儀咨詢客服【大塚電子】

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源?照明產(chǎn)業(yè)以及液晶顯示器、有機(jī)EL顯示器等平板顯示產(chǎn)業(yè)以及其相 關(guān)材料的光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查。歡迎新老客戶來電咨詢！

石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

  下圖為積分半球光學(xué)系統(tǒng)。投光光纖和采光光纖的安裝位置、半球/全球積分球的種類會(huì)與實(shí)際情況有所不同。(本次系統(tǒng)采用的是積分半球)。

FE3000反射式膜厚量測(cè)儀原理為：利用單色儀和氙燈的組合可實(shí)現(xiàn)任意波段的激發(fā)光并以此來照射熒光材料樣品，再以光譜儀對(duì)產(chǎn)生的發(fā)光光譜進(jìn)行測(cè)試并對(duì)其熒光材料特性做出評(píng)價(jià)。

1）石英材質(zhì)液體比色皿，光學(xué)透過率大于98%，全波段無熒光反應(yīng)，用于液體樣品測(cè)試（3個(gè)）。尺寸：12.5mm*12.5mm*140mm

     2）具有專用的液體容器定位裝置，可實(shí)現(xiàn)入射光垂直入射到容器表面。

產(chǎn)品特點(diǎn)非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計(jì)。、高再現(xiàn)性量測(cè)紫外到近紅外波長(zhǎng)反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)(n:折射率、k:消光系數(shù))。

應(yīng)用范圍■ FPD

?LCD、TFT、OLED(有機(jī)EL)

■ 半導(dǎo)體、復(fù)合半導(dǎo)體

?矽半導(dǎo)體、半導(dǎo)體雷射、強(qiáng)誘電、介電常數(shù)材料

■ 資料儲(chǔ)存

?DVD、磁頭薄膜、磁性材料

■ 光學(xué)材料

?濾光片、抗反射膜

■ 平面顯示器

?液晶顯示器、薄膜電晶體、OLED

■ 薄膜

?AR膜

■ 其它

?建筑用材料