光譜膜厚儀性?xún)r(jià)比出眾,一六儀器1

一六儀器  國(guó)內(nèi)外通力合作打造高性?xún)r(jià)比X熒光測(cè)厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專(zhuān)利獨(dú)特聚焦和變距設(shè)計(jì),多元EFP算法,簡(jiǎn)便快速測(cè)試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有：磁性測(cè)厚法，測(cè)厚法，電解測(cè)厚法，渦流測(cè)厚法，超聲波測(cè)厚法。

 測(cè)量注意事項(xiàng)：1.測(cè)量前要注意周?chē)渌碾娖髟O(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng)，如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。

2.測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量，因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定，否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)

4.在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸，因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。

X射線熒光光譜法原理研究

一六儀器  光譜測(cè)厚儀研發(fā)生產(chǎn)廠家  一六儀器一liu品質(zhì),可同時(shí)檢測(cè)多層材料鍍層厚度(含有機(jī)物)及成分.操作簡(jiǎn)單方便.厚度含量測(cè)試只需要幾秒鐘,多小多復(fù)雜的樣品輕松搞定,歡迎來(lái)電咨詢(xún)!

X射線

   德國(guó)物理學(xué)家倫琴在研究稀薄氣體放電實(shí)驗(yàn)時(shí)，采用了一種特殊裝置，此裝置發(fā)射電子，在陰極相對(duì)的位置裝置金屬陽(yáng)極，在陰陽(yáng)兩極之間加以高電壓，當(dāng)容器充有稀薄氣體時(shí)，氣體中可觀察到放電現(xiàn)象，試驗(yàn)中發(fā)現(xiàn)的這種未知射線，倫琴命名為X射線。對(duì)X射線定義為：電子在原子核附近加速或核外內(nèi)層電子能級(jí)間發(fā)生躍遷時(shí)所發(fā)射的電磁輻射。它以PLC和工心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。

測(cè)厚儀操作規(guī)程有哪些？測(cè)厚儀在使用過(guò)程中，如果操作不規(guī)范，很容易導(dǎo)致測(cè)厚儀出現(xiàn)故障及問(wèn)題，因此我們?cè)谑褂们岸夹枰攘私庀聹y(cè)厚儀的操作規(guī)范及一些常見(jiàn)問(wèn)題的處理方法：

一.常見(jiàn)問(wèn)題的排除方法

  常見(jiàn)問(wèn)題 可能原因 解決辦法 測(cè)零時(shí)，計(jì)數(shù)為零 源未打開(kāi) 打開(kāi)源  探頭電源未打開(kāi) 打開(kāi)探頭電源  顯示值與實(shí)際值誤差較大 零點(diǎn)誤差 做零點(diǎn)校正 重新標(biāo)定，輸入新的 參數(shù)

二.安全衛(wèi)生

   1、性安全規(guī)程

   2、禁止將身體的任何部位放入射線區(qū)內(nèi)；

   3、禁止操作人員在射線區(qū)內(nèi)長(zhǎng)期停留；

   4、源保管規(guī)程