清晰度測(cè)試卡制作推薦「多圖」

灰階卡

用于測(cè)試相機(jī)成像質(zhì)量中的灰階，Gamma，噪聲，對(duì)比度，動(dòng)態(tài)范圍/寬容度等，測(cè)試卡類型有多種，不同國際標(biāo)準(zhǔn)選擇對(duì)應(yīng)的測(cè)試卡。ISO14524和ISO15739，ISO16505等國際標(biāo)準(zhǔn)

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圖像測(cè)試卡規(guī)格選擇——SFRplus測(cè)試卡

以下內(nèi)容由正印科技為您提供，希望對(duì)同行業(yè)的朋友有所幫助。

需要知道如何去選擇測(cè)試卡的參數(shù)規(guī)格，比如測(cè)試卡的材料，圖案類型，尺寸大小，高寬比等等。

SFRplus測(cè)試卡是imatest運(yùn)用較廣，功能較全方面的測(cè)試卡，可以測(cè)試圖像分辨率，色彩還原，動(dòng)態(tài)范圍，白平衡，畸變，橫向色差，等等圖像大部分的測(cè)試參數(shù)。

該測(cè)試卡有幾種對(duì)比度選項(xiàng)：

一、4：1對(duì)比度：符合較新的ISO-12233細(xì)則。

二、10：1加上2：1對(duì)比度：使用兩種對(duì)比度分析非線性信號(hào)處理。

三、10：1對(duì)比度：提升圖像表面3D表現(xiàn)的完整性。

圖像分辨率測(cè)試卡的作用以及應(yīng)用范圍

常規(guī)的無損檢測(cè)，也可以用于其他的安檢設(shè)備的圖像成像檢測(cè)用于工業(yè)CT的圖像成像功能檢測(cè)還可以用于CT、的X射線的相關(guān)設(shè)備的圖像質(zhì)量檢測(cè)。用分辨率測(cè)試卡測(cè)定X射線成像系統(tǒng)的可視分辨率，成像系統(tǒng)的分辨率，測(cè)試成像系統(tǒng)的調(diào)制傳遞函數(shù)。

以上就是為大家介紹的全部?jī)?nèi)容，希望對(duì)大家有所幫助。如果您想要了解更多圖像測(cè)試卡的知識(shí)，歡迎撥打圖片上的熱線聯(lián)系我們。

ISO 18844數(shù)字相機(jī)圖像眩光測(cè)試卡

描述此測(cè)試卡有兩種結(jié)構(gòu)，一種一層結(jié)構(gòu)，另一種是兩層結(jié)構(gòu)。一層結(jié)構(gòu)中，黑點(diǎn)的光學(xué)密度為4.5，透過率為 0.000316， 二層結(jié)構(gòu)黑點(diǎn)的光學(xué)密度為9，透過率為0.000000001 。

此測(cè)試卡與均勻透射背光光源配合使用，拍攝時(shí)需要在全黑的暗室中， 在測(cè)試卡表面不能有環(huán)境光帶來的反射，會(huì)影響分析數(shù)據(jù)。

遵循標(biāo)準(zhǔn)ISO 18844:2017 – Digital cameras – Image flare measurement

ISO 18844 標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試圖案，是兩行呈對(duì)角線排列的高密度光陷阱(或黑洞)?？臻g頻率是自然圖像內(nèi)容的組成部分，因此了解攝像機(jī)如何處理這些內(nèi)容非常重要。Imatest軟件較早版本的Veiling glare分析，僅測(cè)試了在圖像一個(gè)固定區(qū)域的點(diǎn)的眩光數(shù)據(jù)，但是在鏡頭的不同位置，眩光的數(shù)據(jù)有可能不同。ISO 18844 標(biāo)準(zhǔn)中type C型，測(cè)試卡在Imatest V5.0版軟件中得到了支持，可以通過Uniformity模塊，或Uniformity交互式模塊進(jìn)行分析。