電鍍測厚儀量大從優(yōu)「在線咨詢」

江蘇一六儀器   X射線熒光測厚儀    十年以上研發(fā)團隊      集研發(fā)生產(chǎn)銷售一體

性能優(yōu)勢：

   下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。

   無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm。

   微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。

測厚儀

    測厚儀（thickness gauge ）是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的性厚度計；超聲波測厚儀超聲波在各種介質中的聲速是不同的，但在同一介質中聲速是一常數(shù)。有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

一六儀器  國內(nèi)外通力合作打造高性價比X熒光測厚儀 穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng),專利獨特聚焦和變距設計,多元EFP算法,簡便快速測試各種涂鍍層的厚度及成分比例

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。

 測量注意事項：1.測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

2.測量時要注意不要在內(nèi)轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。

3在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)

4.在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

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X射線測厚儀測量精度的影響因素

X射線源的衰減對于工廠現(xiàn)場的的標定過程中,隨著使用時間的增加,燈管的曲線會發(fā)生變化,在同一電壓下,隨著使用燈管時間的遞加,厚度偏差會越來越大,因此,X射線源的衰減,是影響測量精度的一個主要原因。除了正常使用過程中X射線源會出現(xiàn)衰減,在出現(xiàn)某些故障是,也會發(fā)生突發(fā)性的衰減,出現(xiàn)標準化通過不過,反饋的電壓與工廠現(xiàn)場標準電壓相差巨大,發(fā)生這種情況,X射線測厚儀的測量精度肯定是不準確的。測厚儀在使用過程中，如果操作不規(guī)范，很容易導致測厚儀出現(xiàn)故障及問題，因此我們在使用前都需要先了解下測厚儀的操作規(guī)范及一些常見問題的處理方法：一。